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    產(chǎn)品展示首頁 > 產(chǎn)品展示 > 日本電子-掃面電鏡系列 > 掃描電鏡 > IT200A日本電子-IT200A掃描電鏡

    產(chǎn)品名稱:日本電子-IT200A掃描電鏡

    產(chǎn)品型號:IT200A

    更新時間:2020-03-28

    產(chǎn)品特點(diǎn):日本電子-IT200A掃描電鏡經(jīng)過改進(jìn)照射系統(tǒng)、真空系統(tǒng)和信號處理系統(tǒng),不僅能觀察高質(zhì)量的圖像,還能利用觸控屏和快速樣品臺進(jìn)行高通量的直觀操作。

    產(chǎn)品詳細(xì)資料:

    日本電子-IT200A掃描電鏡

    主要特長

    電子光學(xué)系統(tǒng)                                               

    是日本電子株式會社升級版機(jī)型,集合了分析掃描電鏡精髓功能,結(jié)構(gòu)緊湊、節(jié)  省空間,分辨率高。

    操作舒適快捷                                                                  

    擁有非常直觀的操作系統(tǒng),即使沒有經(jīng)驗的用戶也可進(jìn)行操作高品質(zhì)的SEM圖像,以及高效率元素分析。可支持操作觸摸屏。

    安裝的靈活性                                                                           節(jié)省空間,安裝方便。一個電源插座就足以安裝。不需要任何冷卻水。

    JSM-IT200A性能參數(shù)

    Main Performance on JSM-IT200A

    圖像模式

     

    二次電子圖像

     

    REF像

     

    成份像 (背散射電子圖像)

     

    形貌像 (背散射電子圖像)

     

    立體像 (背散射電子圖像)

     

    實時圖像顯示

     

    雙實時圖像同時顯示, 分割實時圖像顯示

     

    加速電壓

    0.5KV ~ 30KV

     

    探針束流

    1pA ~ 0.3uA

     

    (二) 電子光學(xué)系統(tǒng)

     

     

    燈絲                                    

     

    工廠預(yù)對中鎢燈絲

     

    電子槍偏壓

     

    無縫式自給偏壓, 連續(xù)調(diào)整

     

    電子槍合軸

     

    自動合軸

     

    燈絲加熱

     

    自動加熱

     

    聚光透鏡                                

     

    變焦聚光透鏡系統(tǒng) – 技術(shù)

     

    物鏡

     

    超級錐形物鏡

     

    物鏡光闌

     

    1孔固定,可在X和Y方向微調(diào)

     

    聚焦

     

    自動/手動聚焦

     

    像散

     

    自動/手動消像散

     

    像散存儲器                              

     

    標(biāo)準(zhǔn)配置,自動/手動補(bǔ)償像散

     

    圖像移動                                

    X-Y , ±50um

     

    (三) 樣品臺

     

     

    樣品臺類型

     

    全對中樣品臺

     

    行程                                    

     

    X     :  80mm;

    Y     :  40mm;

    Z     :  5 ~ 48mm;

    傾斜 T:  -10 ~ +90°

    旋轉(zhuǎn) R:  360°連續(xù)endless

     

    zui大樣品尺寸

     

    可裝直徑150mm高度為48mm的樣品

     

    zui大觀察視野

     

    直徑127mm

     

    (四) 圖形顯示

     

     

    顯示像素

    640×480,1280×960,2560×1920,5120×3840

     

    圖像處理

     

    平均值, 灰度修正, 反差增強(qiáng), 偽彩, 二及四分屏, 2及4倍數(shù)碼變焦

     

    文件存儲格式

     

     

    (五) 操作系統(tǒng)

      

     

    計算機(jī)

    OS    :  Windows 10 (英語版)

    觸摸屏式臺式電腦

     

    (六) 測量功能

     

     

    平行線間距測量

     

    垂直, 水平, 對角

     

    2點(diǎn)之間距離測量

     

    任意2點(diǎn)間距離

     

    圓的測量

     

    直徑

     

    2個圓中心間距離(觸摸屏操作下不支持此功能)

     

    角度測量

     

    角度

     

    面積測量

     

    圓和多角形

     

    計數(shù)

     

    顆粒計數(shù)

     

    (七) 真空系統(tǒng)

     

     

    真空度

     

    高真空模式 1×10-4Pa

     

    抽真空時間

     

     

     

    真空泵系統(tǒng)                             

     

    一個分子泵, 一個機(jī)械泵

     

    (七) 安全裝置

     

    斷電,斷水,泄壓,漏電保護(hù)

     

    (八) 自動功能

     

    自動電子槍控制,自動聚焦,自動消像散,自動反差和亮度

     

    (九) 擴(kuò)展接口

    EDS 能譜儀、Chamber Scope紅外相機(jī)、Probe Current Detector束流監(jiān)視器

     

    (十)能譜儀主要性能

     

     

    探測器

     

    電制冷方式Box SDD 探測器 – 不用液氮

     

    探頭有效掃描面積

    25 mm2

     

    探測器移動

     

    固定

    Resolution

    分辨率

    130eV or less (IC

     

    元素分析范圍

    Be(4) to U(92)

    鈹 至 鈾

    Window

    窗口

    Atmosp

    抗大氣壓的超薄窗

    取出角

    35°(WD:10mm)

    Cooling

    制冷方法

    Peltier coo

    標(biāo)準(zhǔn)搭載功能

    定性分析

     定量分析

    活區(qū)面分析

       點(diǎn)分析

     束流追蹤

     

     

     日本電子-IT200A掃描電鏡:一款更簡潔、更易于使用且性價比高的掃描電子顯微鏡。

    使用初學(xué)者易懂的樣品交換導(dǎo)航,可以輕松地從樣品臺搜索視野并開始觀察SEM圖像。Zeromag能像光鏡一樣直觀地搜索視野,Live Analysis*²可以不用特意分析就能實時獲取元素分析結(jié)果,SMILE VIEWTM Lab能綜合編輯觀察和分析報告等,使它成為一個分析業(yè)務(wù)的軟件。

    立即觀察!立即分析!立即報告!

    JEOL InTouchScope™系列*的三個功能使分析裝置成為一種工具。

    ■完成樣品交換的同時觀察開始    樣品交換導(dǎo)航

    樣品交換導(dǎo)航是從打開樣品室到開始觀察過程中進(jìn)行導(dǎo)航的功能

    ■立即觀察! Zeromag觀察

    使用主窗口顯示的樣品臺示意圖和光學(xué) CCD 圖像 *¹ ,進(jìn)行視野搜尋和分析位置。

    ■立即分析!Live Analysis分析*²

    通過顯示譜圖和顯示元素,能確認(rèn)正在觀察中的視野的譜圖及主要元素。

    ■立即報告!SMILE VIEWTM Lab 數(shù)據(jù)集中管理

    按下數(shù)據(jù)管理圖標(biāo)并顯示數(shù)據(jù)管理窗口后,從SEM圖像到分析,對全部數(shù)據(jù)能創(chuàng)建批量報告 、查看數(shù)據(jù)并重新分析數(shù)據(jù)。

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